فیزیک 6. توصیف نانوکریستال ها- با استفاده از الیپسومتری طیف نما
توصیف نانوکریستال ها- با استفاده از الیپسومتری طیف نما
1. مقدمهاولین کاربرد الیپسومتری برای اندازه گیری پوشش های نازک پلی- و نانوکریستال به دهه ها پیش بر می گردد. مهمترین گام در مسیر تحقیقات الیپسومتری پوشش های نازک کامپوزیت، شناخت اولین الیپسومتری طیف نما در دهه 70 بوده است [3, 4, 8]، که امکان اندازه گیری نقش دی الکتریک را امکان پذیر ساخت، که جزء انگاری آن مستقیما در ارتباط با حساسیت وضعیت چگالی مشترک الکترونیک بوده که بستگی به تغییرات ساختار کریستال دارد. اولین مدل ها بر مبنای روش میانگین موثر با استفاده از عوامل سارنده توابع دی الکتریک [5] بوده، درحالیکه بخش حجیمی از موئلفه ها در ارتباط با ویژگی های کریستال با پوشش نازک می باشند. این روش بر مبنای نیرومندی اش، محبوب می باشد.
فیزیک 1. نانوکریستال ها- ترکیب، خصوصیات و کاربردها
نانوکریستال ها- ترکیب، خصوصیات و کاربردها
چکیدهالیپزومتری مستقیما به اندازه گیری تغییرات پلاریزاسیون که از طریق انعکاس ایجاد می گردد، می پردازد. یعنی نسبت بازتاب پیچیده به صورت زیر تعریف می گردد......مقدمهالیپزومتری می تواند به اندازه گیری نانوکریستال به شکل لایه نازک بپردازد. مدل نوری شامل زیرلایه هایی با ویژگی های نوری معمولا شناخته شده می باشد ( برای نمونه سیلسکون تک کریستالی یا شیشه ای) و یک یا چند لایه نازک حاوی نانوکریستال ها می باشد. اطلاعات مورد نیاز برای محاسبه زوایای الیپزومتریک Y و A ( که در عوض در مقایسه با زوایای اندازه گیری شده قرار می گیرد) به عنوان زاویه رویداد، ضخامت لایه، و شاخص بازتاب پیچیده هر واسطه می باشد......